Відвідуючи цей сайт, ви приймаєте програму використання cookie. Докладніше про нашу політику використання cookie .

ГОСТ 26239.7-84

ГОСТ Р ІСО 15353-2014 ГОСТ Р 55080-2012 ГОСТ Р ІСО 16962-2012 ГОСТ Р ІСО 10153-2011 ГОСТ Р ІСО 10280-2010 ГОСТ Р ІСО 4940-2010 ГОСТ Р ІСО 4943-2010 ДСТУ ISO 14284-2009 ДСТУ ISO 9686-2009 ГОСТ Р ІСО 13899-2-2009 ГОСТ 18895-97 ГОСТ 12361-2002 ГОСТ 12359-99 ГОСТ 12358-2002 ГОСТ 12351-2003 ГОСТ 12345-2001 ГОСТ 12344-88 ГОСТ 12350-78

ГОСТ 12350-78 (СТ РЕВ 961-78) Стали леговані та високолеговані. Методи визначення хрому (із змінами N 1, 2, 3)

ГОСТ 12350-78
(СТ РЕВ 961-78)

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАН

ГОСТ 12354–81 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення молібдену (зі зміною N 1)


ГОСТ 12354-81

Група В39

МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення молібд
ГОСТ 12353-78

ГОСТ 12353-78 (СТ РЕВ 1506-79) Стали леговані та високолеговані. Методи визначення кобальту (зі зміною N 1)

ГОСТ 12353-78
(СТ РЕВ 1506-79)

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГО
ГОСТ 12363-79

ГОСТ 12363–79 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення селену (зі зміною N 1)

ГОСТ 12363-79

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СОЮ3А РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення се

ГОСТ 12360–82 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення бору (зі зміною N 1)

ГОСТ 12360-82

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення бору
ГОСТ 12349-83

ГОСТ 12349-83 (СТ РЕВ 1507-79) Стали леговані та високолеговані. Методи визначення вольфраму (зі зміною N 1)


ГОСТ 12349-83
(СТ РЕВ 1507-79)


Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИ

ГОСТ 12357–84 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення алюмінію


ГОСТ 12357-84

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення алюмінію
<
ГОСТ 12364-84

ГОСТ 12364–84 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення церію

ГОСТ 12364-84

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР


СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення церію

Steels alloyed ГОСТ 29117-91 ГОСТ 12347-77 ГОСТ 12355-78

ГОСТ 12355-78 (СТ РЕВ 1506-79) Стали леговані та високолеговані. Методи визначення міді (зі зміною N 1)

ГОСТ 12355-78

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР


СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Мето

ГОСТ 12362–79 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення мікродомішок сурми, свинцю, олова, цинку та кадмію (зі зміною N 1)

ГОСТ 12362-79

Група В39

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР


СТАЛИ ЛЕГОВАН

ГОСТ 12352–81 Стали леговані та високолеговані. Методи визначення нікелю (зі зміною N 1)


ГОСТ 12352-81

Група В39


МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ

СТАЛИ ЛЕГОВАНІ І ВИСОКОЛЕГОВАНІ

Методи визначення нік
ГОСТ Р 51056-97 ГОСТ Р 51927-2002 ГОСТ Р 51928-2002 ГОСТ 12356-81 ГОСТ Р ІСО 13898-1-2006 ГОСТ Р ІСО 13898-3-2007 ДСТУ ISO 13898-4-2007 ГОСТ Р ІСО 13898-2-2006 ГОСТ Р 52521-2006 ГОСТ Р 52519-2006 ГОСТ Р 52520-2006 ГОСТ Р 52518-2006 ГОСТ 1429.14-2004 ГОСТ 24903-81 ГОСТ 22662-77 ГОСТ 6012-2011 ГОСТ 25283-93 ГОСТ 18318-94 ГОСТ 29006-91 ГОСТ 16412.4-91 ГОСТ 16412.7-91

ГОСТ 16412.7-91 Порошок залізний. Методи визначення вуглецю


ГОСТ 16412.7-91

Група В59


ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

ПОРОШОК ЗАЛІЗНИЙ

Методи визначення вуглецю

Iron powder.
Методи для ви
ГОСТ 2171-90 ГОСТ 23401-90 ГОСТ 30642-99 ГОСТ 25698-98 ГОСТ 30550-98 ГОСТ 18898-89 ГОСТ 26849-86 ГОСТ 26876-86 ГОСТ 26239.5-84 ГОСТ 26239.7-84 ГОСТ 26239.3-84

ГОСТ 26239.3−84 Кремній напівпровідниковий, вихідні продукти для його одержання та кварц. Методи визначення фосфору (зі зміною N 1)


ГОСТ 26239.3-84

Група В59


ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

КРЕМНІЙ НАПІВПРОВ ГОСТ 12226-80 ГОСТ 23402-78 ГОСТ 1429.9-77 ГОСТ 1429.3-77 ГОСТ 1429.5-77 ГОСТ 19014.3-73 ГОСТ 19014.1-73 ГОСТ 17235-71 ГОСТ 16412.5-91 ГОСТ 29012-91 ГОСТ 26528-98 ГОСТ 18897-98 ГОСТ 26529-85 ГОСТ 26614-85 ГОСТ 26239.2-84 ГОСТ 26239.0-84 ГОСТ 26239.8-84 ГОСТ 25947-83 ГОСТ 25599.3-83 ГОСТ 22864-83 ГОСТ 25599.1-83 ГОСТ 25849-83 ГОСТ 25281-82 ГОСТ 22397-77 ГОСТ 1429.11-77 ГОСТ 1429.1-77 ГОСТ 1429.13-77 ГОСТ 1429.7-77 ГОСТ 1429.0-77 ГОСТ 20018-74 ГОСТ 18317-94 ГОСТ Р 52950-2008 ГОСТ Р 52951-2008 ГОСТ 32597-2013 ГОСТ Р 56307-2014 ГОСТ 33731-2016 ГОСТ 3845-2017 ГОСТ Р ІСО 17640-2016 ГОСТ 33368-2015 ГОСТ 10692-2015 ГОСТ Р 55934-2013 ГОСТ Р 55435-2013 ГОСТ Р 54907-2012 ГОСТ 3845-75 ГОСТ 11706-78 ГОСТ 12501-67 ГОСТ 8695-75 ГОСТ 17410-78 ГОСТ 19040-81 ГОСТ 27450-87 ГОСТ 28800-90 ГОСТ 3728-78 ГОСТ 30432-96 ГОСТ 8694-75 ГОСТ Р ІСО 10543-99 ГОСТ Р ІСО 10124-99 ГОСТ Р ІСО 10332-99 ГОСТ 10692-80 ГОСТ Р ІСО 17637-2014 ГОСТ Р 56143-2014 ГОСТ Р ІСО 16918-1-2013

ГОСТ Р ИСО 16918-1-2013 Сталь та чавун. Мас-спектрометричний метод з індуктивно пов'язаною плазмою. Частина 1. Визначення вмісту олова, сурми, церію, свинцю та вісмуту


ГОСТ Р ІСО 16918-1-2013


НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ РОСІЙС
ГОСТ Р 55724-2013 ГОСТ Р ІСО 22826-2012 ГОСТ Р 55143-2012 ГОСТ Р 55142-2012 ГОСТ Р ІСО 17642-2-2012 ГОСТ Р ІСО 17641-2-2012

ГОСТ Р ИСО 17641-2-2012 Випробування руйнівних зварних швів металевих матеріалів. Випробування на опірність утворенню гарячих тріщин у зварних з'єднаннях. Процеси дугового зварювання. Частина 2. Випробування із природною жорсткістю

ГОСТ Р ГОСТ 26877-2008 ГОСТ Р ІСО 17641-1-2011 ДСТУ ISO 9016-2011 ГОСТ Р ІСО 17642-1-2011 ГОСТ Р 54790-2011 ГОСТ Р 54569-2011 ГОСТ Р 54570-2011 ГОСТ Р 54153-2010 ГОСТ Р ІСО 5178-2010 ГОСТ Р ІСО 15792-2-2010 ГОСТ Р ІСО 15792-3-2010 ГОСТ Р 53845-2010 ДСТУ ISO 4967-2009 ГОСТ 6032-89 ГОСТ 6032-2003 ГОСТ 7566-94 ГОСТ 27809-95 ГОСТ 22974.9-96 ГОСТ 22974.8-96 ГОСТ 22974.7-96 ГОСТ 22974.6-96 ГОСТ 22974.5-96 ГОСТ 22974.4-96 ГОСТ 22974.3-96 ГОСТ 22974.2-96 ГОСТ 22974.1-96 ГОСТ 22974.13-96 ГОСТ 22974.12-96 ГОСТ 22974.11-96 ГОСТ 22974.10-96 ГОСТ 22974.0-96 ГОСТ 21639.9-93 ГОСТ 21639.8-93 ГОСТ 21639.7-93 ГОСТ 21639.6-93 ГОСТ 21639.5-93 ГОСТ 21639.4-93 ГОСТ 21639.3-93 ГОСТ 21639.2-93 ГОСТ 21639.0-93 ГОСТ 12502-67 ГОСТ 11878-66 ГОСТ 1763-68 ГОСТ 13585-68 ГОСТ 16971-71 ГОСТ 21639.10-76 ГОСТ 2604.1-77 ГОСТ 11930.7-79 ГОСТ 23870-79 ГОСТ 11930.12-79 ГОСТ 24167-80 ГОСТ 25536-82 ГОСТ 22536.2-87 ГОСТ 22536.11-87 ГОСТ 22536.6-88

ГОСТ 22536.6-88 Сталь вуглецевий і чавун нелегований. Методи визначення миш'яку

ГОСТ 22536.6-88

Група В09

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР


СТАЛЬ ВУГЛЕНИСТА І чавун НЕЛЕГОВАНИЙ

Методи визначення миш ГОСТ 17745-90 ГОСТ 26877-91 ГОСТ 8233-56 ГОСТ 1778-70 ГОСТ 10243-75 ГОСТ 20487-75 ГОСТ 12503-75 ГОСТ 21548-76 ГОСТ 21639.11-76 ГОСТ 2604.8-77 ГОСТ 23055-78 ГОСТ 23046-78 ГОСТ 11930.11-79 ГОСТ 11930.1-79 ГОСТ 11930.10-79 ГОСТ 24715-81 ГОСТ 5639-82 ГОСТ 25225-82 ГОСТ 2604.11-85 ГОСТ 2604.4-87 ГОСТ 22536.5-87

ГОСТ 22536.5-87 (СТ РЕВ 486-88, ІСО 629-82) Сталь вуглецевий і чавун нелегований. Методи визначення марганцю (зі змінами N 1, 2)

ГОСТ 22536.5-87
(СТ РЕВ 486-88,
ISO 629-82)*
_______________
* Змінена редакція, Змін. N1.
ГОСТ 6130-71 ГОСТ 23240-78 ГОСТ 3242-79 ГОСТ 11930.3-79 ГОСТ 11930.5-79 ГОСТ 11930.9-79 ГОСТ 11930.2-79 ГОСТ 11930.0-79 ГОСТ 23904-79 ГОСТ 11930.6-79 ГОСТ 7565-81 ГОСТ 7122-81 ГОСТ 2604.3-83 ГОСТ 2604.5-84 ГОСТ 26389-84 ГОСТ 2604.7-84 ГОСТ 28830-90 ГОСТ 21639.1-90 ГОСТ 5640-68 ГОСТ 5657-69 ГОСТ 20485-75 ГОСТ 21549-76 ГОСТ 21547-76 ГОСТ 2604.6-77 ГОСТ 22838-77 ГОСТ 2604.10-77 ГОСТ 11930.4-79 ГОСТ 11930.8-79 ГОСТ 2604.9-83 ГОСТ 26388-84 ГОСТ 14782-86 ГОСТ 2604.2-86 ГОСТ 21639.12-87 ГОСТ 22536.8-87 ГОСТ 22536.0-87 ГОСТ 22536.3-88

ГОСТ 22536.3-88 (СТ РЕВ 485-75) Сталь вуглецевий і чавун нелегований. Метод визначення фосфору

ГОСТ 22536.3-88
(СТ РЕВ 485-75)

Група В09

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛЬ ВУГЛЕНИСТА І чавун НЕЛЕГОВАНИЙ

ГОСТ 22536.9-88 ГОСТ 22536.14-88 ГОСТ 22536.4-88 ГОСТ 22974.14-90 ГОСТ 23338-91 ГОСТ 2604.13-82 ГОСТ 2604.14-82 ГОСТ 22536.1-88

ГОСТ 22536.1-88 (СТ РЕВ 5284-85) Сталь вуглецевий та чавун нелегований. Методи визначення загального вуглецю та графіту

ГОСТ 22536.1-88
(СТ РЕВ 5284-85)


Група В09

ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

СТАЛЬ ВУГЛЕН
ГОСТ 16773-2003 ГОСТ 7512-82 ГОСТ 6996-66 ГОСТ 12635-67 ГОСТ 12637-67 ГОСТ 12636-67 ГОСТ 24648-90

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)


ГОСТ 26239.7-84

Група В59


ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР

КРЕМНІЙ НАПІВПРОВІДНИКОВИЙ

Метод визначення кисню, вуглецю та азоту

Семіconductor silicon. Метод оксигену, карбону і нітрогенного значення


ОКСТУ 1709

Дата введення 1986-01-01


Постановою Державного комітету СРСР за стандартами від 13 липня 1984 р. N 2491* строк дії встановлено з 01.01.86 до 01.01.91**
__________________
* Див. ярлик «Примітки»;
** Обмеження терміну дії знято за протоколом N 7-95 Міждержавної Ради зі стандартизації, метрології та сертифікації (ІВД N 11, 1995 рік). - Примітка виробника бази даних.

ВНЕСЕН Зміна N 1, затверджена та введена в дію з 01.01.91 постановою Держстандарту СРСР від 26.06.90 N 1847

Зміна N 1 внесена виробником бази даних за текстом ІКС N 10, 1990 рік


Цей стандарт встановлює метод визначення кисню, вуглецю та азоту в напівпровідниковому кремнії з використанням активації прискореними іонами. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Не й протонами в інтервалах значень масових часток домішок:

кисень інструментальний аналіз

від 5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) до 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %

з радіохімічним виділенням

від 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) до 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %

вуглець інструментальний аналіз

від 2·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) до 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %

з радіохімічним виділенням

від 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) до 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %

азот із радіохімічним виділенням

від 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) до 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %.


Метод заснований на опроміненні аналізованих проб та зразків порівняння прискореними іонами ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Не (визначення кисню та вуглецю) або протонами (визначення азоту) з наступним виміром наведеної активності радіоактивних ізотопів ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F та ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З на спектрометрі ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів.

Зміст домішок в аналізованій пробі визначають шляхом зіставлення інтенсивностей рахунку імпульсів радіоактивних ізотопів елементів, що визначаються в пробах і зразках порівняння.

1. ЗАГАЛЬНІ ВИМОГИ

1.1. Загальні вимоги до методу аналізу - за ГОСТ 26239.0-84.

2. АПАРАТУРА, МАТЕРІАЛИ ТА РЕАКТИВИ


Прискорювач заряджених частинок - джерел іонів ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Не з енергією 13 меВ при струмі іонів у пучку 1-5 мкА, джерело протонів з енергією не менше 6,5 МеВ і струмом іонів у пучку 1-5 мкА.

Спектрометр ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів із кристалами Nal (T1), що мають розмір не менше 100х70 мм.

Універсальний радіометр-дозиметр типу МКС-01Р.

Бюкси типу 1К-НЖ для радіохімічних робіт з додатковим захистом зі свинцевої цегли та провинцюваного скла відповідно до вимог НРБ-76/87/

Засоби індивідуального захисту від випромінювання та забруднень радіоактивними речовинами відповідно до вимог ОСП-72/87*.
_______________
* На території Російської Федерації документ не діє. Діють З. П. 2.6.1.799-99. - Примітка виробника бази даних.

Секундомір за ГОСТ 5072-79 .

Терези аналітичні.

Центрифуга лабораторна зі швидкістю обертання 5000 об/хв.

Плитка електрична.

Штангенциркуль типу В20034.

Насос водоструминний лабораторний скляний.

Шайби мідні діаметром 35 мм, висотою 13 мм із комплектом знімних алюмінієвих діафрагм товщиною 0,4-0,5 мм. Зовнішній діаметр діафрагм 30 мм, діаметри отворів 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13, 14 мм, 5-8 шт. кожного розміру.

Касети алюмінієві діаметром 28 мм, висотою 5 мм. Товщина дна та кришки касети по 1,5 мм.

Фольга алюмінієва завтовшки 10, 15, 23, 34, 50, 70 мкм.

Азбест листовий.

Набір пробірок із фторопласту-4 місткістю по 20 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Щипці тигельні.

Тиглі нікелеві діаметром 30 мм, висотою 50 мм.

Пекти тигельна вертикальна, діаметр кварцової вставки 60 мм, висота 200 мм, потужність 1,5 кВт або аналогічна піч.

Шланг гумовий діаметром 6 мм.

Шланг поліхлорвініловий діаметром 6 мм.

Силікагель для хроматографії марки КСК розміром зерна 100 мкм.

Папір фільтрувальний.

Папір напівлогарифмічний за ГОСТ 334-73 .

Калька.

Зразки порівняння: пластини кварцового оптичного скла марки KB розміром 15х15х3 мм; пластини, вирізані з пірографіту марки МПГ-8 розміром 15х15х3 мм; пластини нітриду алюмінію розміром 15х15х3 мм.

Пінцети металеві

Пінцети із фторопласту-4.

Шпателі металеві.

Абразивні порошки М28, М20, М14, М10 за ГОСТ 3647-80 .

Галій металевий технічний.

Індій металевий технічний за ГОСТ 10297-75 *.
______________
* На території Російської Федерації документ не діє. Діє ГОСТ 10297-94 . - Примітка виробника бази даних.


Чашки з фторопласту-4, діаметром 30-35 мм, висотою 25-30 мм.

Реакційна колба з молібденового скла місткістю 100 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) круглодонна.

Піпетки з оргскла на 5, 10 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Стакани Дрекселя місткістю 50, 100 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Склянки скляні місткістю 50, 100, 500 та 1000 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Фільтри Шотта N 4, діаметром 40 мм.

Колби Бунзена місткістю 500 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Циліндри скляні мірні місткістю 25, 50 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Циліндри мірні з оргскла місткістю 10, 15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Колби скляні мірні місткістю 500 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Пробки гумові.

Кислота азотна за ГОСТ 4461-77 концентрована.

Кислота сірчана за ГОСТ 4204-77 концентрована.

Кислота фтористоводнева за ГОСТ 10484-78 концентрована.

Лантан азотнокислий.

Натрій фтористий.

Барій хлористий технічний за ГОСТ 742-78 .

Аміак водний за ГОСТ 3760-79 , х.ч., концентрований і 25%-ний.

Натрій азотнокислий технічний за ГОСТ 828-77 .

Натрію гідроксид за ГОСТ 4828-83 *, год.
______________
* На території Російської Федерації документ не діє. Діє ГОСТ Р 51135-98. - Примітка виробника бази даних.

Натрій двовуглекислий за ГОСТ 2156-76 , год.

Ефір діетиловий, х.ч.

Вуглець чотирихлористий за ГОСТ 20288-74 .

Спирт етиловий ректифікований технічний за ГОСТ 18300-87 .


Вода дистильована за ГОСТ 6709-72 .

Розчин 1: розчин азотнокислого лантану, що містить 0,2 г лантану в 1 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , 312 г La (NO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ·6Н ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Про розчиняють при нагріванні 170 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) концентрованої азотної кислоти, розчин охолоджують до кімнатної температури і переносять у мірну колбу місткістю 500 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) потім доводять до мітки дистильованою водою.

Розчин 2: суміш кислот для полірування та розчинення зразків кремнію. Готують у поліетиленовій банці місткістю 500 см. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) з концентрованих азотної та фтористоводневої кислот у співвідношенні 3:1 за обсягом.

Визначають вміст фтор-іону у приготовленій суміші кислот: у чотири склянки місткістю по 50 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) доливають по 10 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) розчину 1 та нагрівають на електроплитці до кипіння. У киплячий розчин 1 доливають по 5 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) розчину 2. Осад фториду лантану, що утворився в кожній склянці, відокремлюють центрифугуванням, промивають 5 М азотної кислоти, етиловим спиртом з ефіром, ефіром і висушують до постійної маси. За 100%-ний вихід фториду лантану приймають середню арифметичну масу чотирьох виділених опадів.

Аміачний розчин хлориду барію, що містить 0,14 г барію в 1 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) : 250 г BaCl ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ·2Н ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Про розчиняють у дистильованій воді, додають 91 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 25%-ного розчину аміаку, переносять у мірну колбу місткістю 1000 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) і доводять до мітки дистильованою водою. Розчин переносять у склянку місткістю 2000 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) та доводять до кипіння. Охолоджений розчин фільтрують і зберігають у герметично закритому посуді. Якщо при зберіганні розчину випадає осад, розчин необхідно прокип'ятити повторно і осад відфільтрувати.

Галій-індійний сплав, близький за складом до евтектики (від 20 до 30% індія і від 80 до 70% галію): у порцелянову чашку поміщають суміш галію та індія щодо 7:3 масою, нагрівають на електричній плитці протягом 2- 2,5 год та охолоджують на повітрі.

(Змінена редакція, зміна N 1).

3. ПІДГОТОВКА ДО АНАЛІЗУ

3.1. Підготовка аналізованих пластин кремнію та зразків порівняння до опромінення

3.1.1. Для отримання одного результату аналізу необхідно підготувати та опромінити не менше двох паралельних пластин кремнію. На аналіз готують пластини кремнію у вигляді квадратів зі стороною 12-14 мм та товщиною 0,3-3,5 мм. Поверхня відібраних на аналіз пластин має бути хімічно полірованою. Для отримання хімічно полірованої поверхні кремній спочатку обробляють на абразивних порошках М28, М20, М14, поступово переходячи від грубішого порошку М28 до М14. При ручному шліфуванні абразивний порошок наносять на плоскі скляні пластини та змочують водою. Для кожного номера порошку має бути окрема пластина. Порошками обробляють обидві поверхні пластини кремнію. Бокову поверхню не обробляють. Після шліфування на кожному порошку на поверхнях не повинно бути подряпин, пластини кремнію слід ретельно відмивати від попереднього порошку.

Суміш кислот для хімічного полірування (розчин 2) у кількості, достатній для повного занурення пластин, наливають у чашку з фторопласту. Пластину кремнію затискають у пінцет з фторопласту і занурюють у полірувальну суміш. У процесі полірування суміш безперервно перемішують. Полірування закінчують, коли поверхня пластини кремнію стає блискучою. Кремній швидко витягають із суміші, що полірує, промивають проточною водою і підсушують фільтрувальним папером. Якщо поверхні виявляються подряпини, пори чи раковини, обробку слід повторити.

Зразки, з яких перелічені вище дефекти при повторній обробці не усуваються, не придатні для аналізу.

Відібрані на аналіз пластини кремнію зважують, вимірювають мікрометром товщину в геометричному центрі, вимірювають геометричні розміри пластини штангенциркулем і розраховують площу поверхні.

Перед встановленням у мідну шайбу на площину пластини кремнію, протилежну опромінюваної, наносять за допомогою дерев'яної палички індій-галієву евтектику. Змоченою поверхнею пластину кремнію кладуть на поверхню масивної мідної шайби по її геометричному центру, злегка притискають і притирають до неї, крапельки евтектики, що виступили, видаляють дерев'яною паличкою, після чого на пластину кремнію поміщають алюмінієву діафрагму і фіксують положення притискними. Отвір діафрагми має бути на 1-2 мм меншим за діаметр або сторону квадрата пластини.

(Змінена редакція, зміна N 1).

3.1.2. Мідні шайби зі зразками порівняння готують наступним чином: по центру мідної шайби поміщають зразок порівняння (кварц, графіт або нітрид алюмінію) і закріплюють діафрагмою і притискними гвинтами.

Якщо необхідно зменшити енергію іонів, між діафрагмою та зразком порівняння поміщають фольгу з алюмінію, товщина якої повинна відповідати необхідному зменшенню енергії.

3.2. Опромінення пластин кремнію та зразків порівняння

Підготовлені мідні шайби з пластинами кремнію завантажують пристрій для опромінення, періодично і в довільному порядку вводячи між ними мідні шайби зі зразками порівняння.

На кожну домішку, що визначається, має бути підготовлено по 9 шайб зі зразками порівняння, опромінених при трьох різних значеннях енергії іонів в інтервалі від 6 до 10 МеВ для ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) He і від 4 до 6,5 МеВ для протонів.

При визначенні кисню та вуглецю мідні шайби з пластинами кремнію та зразками порівняння (кварц та графіт) опромінюють іонами. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Не з енергією від 12,7 до 13 МеВ.

При визначенні азоту пластини кремнію та зразків порівняння з нітриду алюмінію опромінюють протонами з енергією 6,5 МеВ.

При опроміненні пластин кремнію струм однозарядних іонів становить 1-5 мкА, тривалість опромінення від 20 до 120 хв.

Зразки порівняння опромінюють струмом не більше 0,1 мкА, тривалість опромінення 1-3 хв.

(Змінена редакція, зміна N 1).

3.3. Обробка опромінених зразків порівняння

Мідні шайби з опроміненими зразками порівняння з кварцу витримують у боксі фасування протягом 4-5 год, шайби з графітом або нітридом алюмінію витримують 1,5-2 год.

Після витримки зразки порівняння витягують із шайб. Пластини кварцу протирають ватним тампоном, змоченим спиртом, упаковують у алюмінієві касети та передають на спектрометр. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів для вимірювання кривих розпаду

3.4. Обробка пластин кремнію після опромінення

Після закінчення опромінення мідні шайби з пластинами кремнію надходять у розфасувальний бокс радіохімічної лабораторії, де їх витримують протягом 5-10 хв (при аналізі з радіохімічним виділенням аналітичних ізотопів ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F або ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) С), або 30-45 хв (при інструментальному аналізі).

Після закінчення витримки пластини кремнію вилучають із мідних шайб, очищають поверхню ватним тампоном, змоченим спиртом, і поміщають у бокс для хімічної обробки.

При визначенні кисню та вуглецю з поверхні опромінених пластин кремнію повинен бути видалений шар завтовшки 45-50 мкм, якому відповідає зменшення енергії іонів від 13 до 10 МеВ.

При визначенні азоту (на протонах) з опромінених протонами пластин кремнію видаляють шар завтовшки 15-20 мкм.

Для видалення поверхневого шару пластини кремнію обробляють у суміші фтористоводневої та азотної кислот (розчин 2). По 10-15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) цієї суміші наливають у дві чашки з фторопласту. Пластину кремнію затискають у пінцет з фторопласту і занурюють у чашку 1 так, щоб у процесі травлення вона була повністю занурена в суміш. Під час травлення суміш постійно перемішують.

Пластину кремнію обробляють у чашці 1 протягом фіксованого часу (30 або 60 с), потім швидко витягають її з чашки, ретельно промивають водою, підсушують фільтрувальним папером і зважують. По різниці між масою зразка до травлення та після травлення визначають товщину стравленого шару ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), мкм, за формулою

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , (1)


де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Маса зразка до травлення, мг;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Маса зразка після травлення, мг;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Повна поверхня пластини кремнію, мм ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Якщо після обробки в чашці 1 товщина стравленого шару менша за необхідну, травлення продовжують у чашці 2 з урахуванням швидкості травлення пластини кремнію в чашці 1. Відпрацьовані розчини зливають у збірники радіоактивних відходів.

Після закінчення травлення пластину кремнію швидко вилучають із суміші кислот, ретельно промивають водою, підсушують, зважують і визначають повну товщину стравленого шару за формулою (1). Товщина стравленого шару повинна бути такою, щоб активність частини опроміненого шару, що залишилася на пластині, відповідала енергії частинок 10 МеВ.

Оброблені таким чином пластини кремнію передають на інструментальний аналіз або піддають подальшій радіохімічній обробці.

(Змінена редакція, зміна N 1).

4. ПРОВЕДЕННЯ АНАЛІЗУ

4.1. Інструментальне визначення кисню та вуглецю в кремнії

Інструментальний метод застосовується для визначення кисню, вуглецю в полікристалічному кремнії та в нелегованому кремнії та в кремнії, вирощеному методом безтигельної зонної плавки, а також для визначення кисню в кремнії, вирощеному методом Чохральського.

Після видалення поверхневого шару (див. п. 3.4) пластину кремнію упаковують у касету з алюмінію та передають на спектрометр ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів для вимірювання кривих розпаду

Перед початком вимірювань спектрометр ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів за допомогою джерела ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Na налаштовують на режим реєстрації анігіляційних ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -Квантів, після чого визначають природне тло спектрометра.

Вимірювання активності пластини кремнію (кількість збігів в одиницю часу) повинні бути розпочаті через годину після закінчення опромінення. Протягом першої години вимірів, коли реєструють активність ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З інтервали між вимірюваннями активності повинні становити 10-15 хв, потім інтервали між вимірюваннями активності можуть бути збільшені до 30-60 хв. Час набору збігів у кожному такому вимірі задають таким, у якому статистична похибка ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) не перевищувала 0,1. Вимірювання закінчують, коли активність зразка знижується до величини природного спектрометра фону.

Активність зразків порівняння вимірюють на спектрометрі ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів протягом двох-чотирьох періодів напіврозпаду відповідного аналітичного ізотопу (для ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 109,8 хв, для ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 20,38 хв). Для реєстрації активності ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Зразки порівняння з графіту і нітриду алюмінію вимірюють з інтервалом 20-40 хв, ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F-зразки порівняння з кварцу - з інтервалом 60-120 хв.

За результатами вимірювань активності будують на напівлогарифмічному папері криві розпаду радіонуклідів ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F та ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З у пластинах кремнію та зразках порівняння. Ці криві будують у координатах ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку аналітичного ізотопу, совп./хв, виміряна в момент часу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) .

Криві розпаду, побудовані за результатами вимірювань активності пластин кремнію, зазвичай складаються з двох компонентів з періодом напіврозпаду 20,38 хв ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) С) та 109,8 ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F).

Обробка кривих розпаду полягає в їхньому графічному розкладанні на компоненти та знаходженні методом екстраполяції швидкості рахунку кожного аналітичного ізотопу. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F), ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) С) у момент закінчення опромінення.

Якщо під час обробки кривих розпаду виявлено невідповідність періодів напіврозпаду, знайдених в експерименті, табличним значенням, аналіз цієї пластини кремнію необхідно повторити із застосуванням радіохімічного виділення аналітичних ізотопів.

Криві розпаду, побудовані за результатами вимірювань активності зразків порівняння, є однокомпонентними та повинні відповідати періоду напіврозпаду ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З для графіту або ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F для кварцу. За цими кривими розпаду визначають швидкість рахунку ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , совп./хв) в кварці та швидкість рахунку ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв) у графіті в момент закінчення опромінення.

Отримані величини активностей зразків порівняння для трьох значень енергії частинок, що активують, використовують для побудови калібрувальних кривих — залежностей ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) від енергії активуючих частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , МеВ. Ці калібрувальні криві використовують для визначення активності зразків порівняння при проміжних значеннях енергії частинок, що активують, відповідних фактичної товщини віддаленого з пластини кремнію поверхневого шару.

Масову частку домішки у відсотках обчислюють за формулами:


кисню ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ; (2)

вуглецю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , (3)


де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F та ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З відповідно в момент закінчення опромінення в пластині кремнію, що відповідає енергії частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F та ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З відповідно в момент закінчення опромінення в кварці (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) або графіті ©, що відповідає енергії частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Середній струм активуючих частинок при опроміненні на прискорювачі кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), кварцу (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) або графіту ©, мкА;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Тривалість опромінення на прискорювачі кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), кварцу (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) та графіту ©, хв.

Описаний принцип вимірювання кривих розпаду, обробки результатів вимірювання та отримання кінцевого результату - концентрації домішки, що визначається, в пластині кремнію, - покладено в основу автоматизованої системи «АКАН» в комплексі з ЕОМ ЄС-1010. Програму обробки результатів вимірювань складено мовою «FORTRAN-4».

За результат аналізу приймають середнє арифметичне двох обчислених за формулою (2) або (3) результатів паралельних визначень, кожен з яких отриманий для однієї з двох пластин кремнію, опромінених при одному режимі прискорювача роботи (без перебудови по енергії).

Різниця більшого та меншого з двох результатів паралельних визначень з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95 не повинна перевищувати величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.1.

Таблиця 1

Визначається домішка Масова частка домішки, % Абсолютною допускається розбіжність, %
Кисень

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

6,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

6,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

6,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

6,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

3,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

Вуглець

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

5,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

5,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

5,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

2·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)



Правильність результатів аналізу контролюють методом, що полягає у проведенні аналізу тих самих пластин кремнію при двох значеннях енергій активуючих частинок. Для контролю правильності відбирають із раніше проаналізованих пластин кремнію зразки із вмістом контрольованих домішок на рівні 10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) % за масою.

Кисень і вуглець визначають за енергії іонів ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) Не 7,5 та 10 МеВ, при визначенні азоту пластини опромінюють протонами з енергією 5 та 6,5 МеВ.

Результати аналізу вважають правильними з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95, якщо різниця між знайденими при різних енергіях частинок значеннями концентрацій домішок не перевищує величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.1.

(Змінена редакція, зміна N 1).

4.2. Аналіз із застосуванням радіохімічного виділення аналітичних ізотопів

4.2.1. Визначення кисню в кремнії із застосуванням радіохімічного виділення

Метод застосовують визначення змісту кисню в кремнії, коли необхідно усунути вплив домішок-джерел позитронної активності. Наявність перешкод від домішок і їх усунення встановлюють за результатами обробки кривих розпаду при аналізі кремнію інструментальним методом відповідно до п. 4.1.

Для визначення вмісту кисню із застосуванням радіохімічного виділення ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F пластини кремнію після інструментального аналізу за п. 4.1 повинні бути знову оброблені відповідно до п. 3.1, повторно опромінені, витримані після закінчення опромінення протягом 5-10 хв і оброблені відповідно до п. 3.4, після чого пластину кремнію переносять у бокс N2 для радіохімічних робіт.

У чашку з фторопласту наливають 5 см. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) суміші концентрованих фтористоводневої та азотної кислот з відомим вмістом фтору (розчин 2) і в неї пінцетом із фторопласту занурюють кремній.

За час розчинення у суміші товщина пластини кремнію повинна зменшитися не менше, ніж на 300 мкм. Кількість кремнію, переведеного в розчин, контролюють зменшення маси пластини кремнію ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , мг з урахуванням її повної поверхні ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , мм ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) (Див. п. 3.4).

У реакційну колбу приладу для дистиляції фтору (черт.1) поміщають 250-300 мг подрібненого силікагелю, колбу закривають воронкою з притертою пробкою і підключають до водоструминного насоса, після чого в колбу переливають суміш 2 з фторопластовой чашки, 0 −15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) концентрованої сірчаної кислоти.

чорт.1. Прилад для дистиляції сполук фтору з кремнієм із молібденового скла

Прилад для дистиляції сполук фтору з кремнієм із молібденового скла

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)


1 - реакційна колба; 2 - трубка з силікагелем, просоченим концентрованою сірчаною кислотою; 3 - приймач фтору, що містить 15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) дистильованої води


Чорт.1



Фториди кремнію відганяють протягом 3-5 хв при працюючому водоструминному насосі і поглинають дистильованою водою в приймачі 3. Після закінчення відгону приймач 3 від'єднують від приладу, а потім відключають водоструминний насос.

Розчин з приймача 3 переливають у скляну склянку місткістю 100 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , Що містить 15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) нагрітого до кипіння розчину нітрату лантану (розчин 1) і продовжують нагрівання протягом 1 хв, безперервно перемішуючи розчин.

Осад, що утворився, фториду лантану відокремлюють центрифугуванням, промивають послідовно гарячою 5 М азотною кислотою, спиртом з ефіром, ефіром і потім підсушують, поміщаючи пробірку з осадом поблизу електроплитки.

Тривалість виділення хімічного осаду фториду лантану не перевищує 20-30 хв.

Висушений осад фториду лантану переносять на кальку, загортають до неї, кальку поміщають у алюмінієву касету і передають спектрометр ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів для вимірювання кривої розпаду

Активність осаду фториду лантану вимірюють на спектрометрі ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів з інтервалами між вимірами 30-60 хв. Вимірювання закінчують, коли активність осаду знизиться рівня фону спектрометра.

За результатами вимірювань будують криву розпаду ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) і за нею визначають швидкість рахунку ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F у фториді лантану ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв, в момент закінчення опромінення методом екстраполяції.

Після закінчення вимірювань осад фториду лантану вилучають із алюмінієвої касети і зважують. Хімічний вихід фтору ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) визначають як відношення маси осаду ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , що відповідає 100% виділенню фтору, до маси ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) виділеного в даному досвіді осаду

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) . (4)


Масову частку домішки кисню ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) у відсотках обчислюють за формулою

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , (5)


де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F в момент закінчення опромінення у пластині кремнію, відповідних енергії частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) F у момент закінчення опромінення в кварці (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), відповідна енергії активуючих частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Середній струм активованих частинок при опроміненні на прискорювачі відповідно кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), кварцу (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), мкА;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Тривалість опромінення на прискорювачі відповідно кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), кварцу (SiO ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ), хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Хімічний вихід фтору.

Вимірювання кривих розпаду виділених опадів фториду лантану та обробка результатів вимірювань передбачені програмою, складеною для автоматизованої системи «АКАН» у комплексі з ЕОМ ЄС-1010, написаною мовою «FORTRAN-4».

За результат аналізу приймають середнє арифметичне двох обчислених за формулою (5) результатів паралельних визначень, кожен з яких отриманий для однієї з двох пластин кремнію, опромінених при одному режимі прискорювача роботи (без перебудови по енергії).

Різниця більшого та меншого двох результатів паралельних визначень з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95 не повинна перевищувати величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.2.

Таблиця 2

Масова частка домішки кисню, %
Абсолютна допускається розбіжність, %

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

3,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)



Правильність результатів аналізу контролюють за п. 4.1.

4.2.2. Визначення кисню та вуглецю в кремнії із застосуванням радіохімічного виділення фтору та вуглецю.

Метод застосовується у випадках, коли необхідно усунути взаємний вплив кисню та вуглецю, а також інших домішок – джерел позитронної активності на результати аналізу.

У нікелевий тигель поміщають 2 г гідроксиду натрію, 1 г азотнокислого натрію, 0,8 г фториду натрію і 0,3 г карбонату натрію, тигель ставлять в печі тигель, попередньо нагріту до 200-250 °С, витримують в ній до. Потім тигель витягають з печі, охолоджують на повітрі до 100-150 ° С, після чого в розплав занурюють зразок кремнію. Температуру в печі підвищують до 400-450 ° С, тигель зі зразком ставлять у піч і проводять сплавлення протягом 4-5 хв. Після закінчення сплавлення нікелевий тигель 1 витягають з печі, охолоджують на повітрі до 100-150 °З поміщають на дно реакційної посудини 2 приладу (чорт.2).

Чорт.2. Прилад для дистиляції сполук фтору з кремнієм та вуглекислого газу з молібденового скла

Прилад для дистиляції сполук фтору з кремнієм та вуглекислого газу з молібденового скла

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)


1 - нікелевий тигель з охолодженим розплавом; 2 - реакційна судина; 3 - трубка з силікагелем, просоченим концентрованою сірчаною кислотою; 4 - приймач фтору, що містить 15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) дистильованої води; 5 - проміжна ємність; 6 - приймач вуглекислого газу, що містить 15 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) аміачного розчину хлориду барію


Чорт.2


Реакційну посудину закривають крапельною лійкою, прилад для дистиляції газів підключають до водоструминного насоса. У реакційну посудину через краплинну вирву доливають 10-15 см. ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) концентрованої сірчаної кислоти. Через 4-5 хв після початку реакції в колбу доливають 1,5-2 см ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) води. Відгін продовжують ще 3 хв, потім послідовно відключають приймачі 3, 5 і водоструминний насос.

4.2.2.1. Визначення кисню

З розчину, що міститься у приймачі 4, виділяють осад фториду лантану за п. 4.2.1.

Хімічний вихід фтору визначають за формулою

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , (6)


де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Маса осаду фториду лантану, виділеного в даному досвіді, р.

Масову частку домішки кисню розраховують за формулою (5).

За результат аналізу приймають середнє арифметичне двох обчислених за формулою (5) результатів паралельних визначень, кожен з яких отриманий для однієї з двох пластин кремнію, опромінених при одному режимі прискорювача роботи (без перебудови по енергії).

Різниця більшого та меншого двох результатів паралельних визначень з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95 не повинна перевищувати величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.3.

Таблиця 3

Масова частка домішки кисню, %
Абсолютна допускається розбіжність, %

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

7,0·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)



Правильність результатів аналізу контролюють за п. 4.1.

4.2.2.2. Визначення вуглецю

З розчину, що міститься у приймачі 6, виділяють осад карбонату барію. Для цього вміст приймача 6 переливають у склянку. Склянку накривають годинниковим склом, ставлять на електроплитку і кип'ятять протягом 1-2 хв. Потім розчин охолоджують, осад, що утворився, збирають на паперовому фільтрі, поміщеному на дно вирви Шотта. Фільтрування проводять при розрядженні, що створюється водоструминним насосом. Осад послідовно промивають холодним розчином хлориду барію, спиртом, ефіром, підсушують на повітрі. Фільтр із осадом переносять на кальку, загортають до неї. Кальку з осадом поміщають до алюмінієвої касети для вимірювання активності на спектрометрі ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) -збігів.

Активність виділеного осаду вуглекислого барію вимірюють протягом першої години через кожні 10-15 хв, потім інтервал між вимірами може бути збільшений до 30-60 хв. Вимірювання закінчують, коли активність вуглекислого барію зменшиться до рівня фону вимірювальної установки.

За результатами вимірювання активності будують криву розпаду ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) і за нею методом екстраполяції визначають швидкість рахунку ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З у карбонаті барію ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) у момент закінчення опромінення.

Після закінчення вимірювань осад карбонату барію вилучають із алюмінієвої касети і зважують. Хімічний вихід вуглецю визначають як відношення маси осаду вуглекислого барію, що відповідає 100% виділенню введеного в досвід стабільного ізотопного вуглецевого носія 0,558 г, до маси ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) виділеного в даному досвіді осаду

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) . (7)


Масову частку домішки вуглецю ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) у відсотках розраховують за формулою

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , (8)


де ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Швидкість рахунку радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З моменту закінчення опромінення в пластині кремнію, відповідна енергії частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Активність радіоізотопу ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) З моменту закінчення опромінення у графіті © при енергії активуючих частинок ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , збіг./хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - середній струм активуючих частинок при опроміненні відповідно кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) та графіту ©, мкА;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) , ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Тривалість опромінення відповідно кремнію ( ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) ) та графіту ©, хв;

ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) - Хімічний вихід вуглецю.

Вимірювання кривих розпаду виділених опадів карбонату барію та обробка результатів вимірювань передбачені програмою, складеною для автоматизованої системи «АКАН» у комплексі з ЕОМ ЄС-1010, написаною мовою «FORTRAN-4».

За результат аналізу приймають середнє арифметичне двох обчислених за формулою (8) результатів паралельних визначень, кожен з яких отримано для однієї з двох пластин кремнію, опромінених при одному режимі прискорювача роботи (без перебудови енергії).

Різниця більшого та меншого з двох результатів паралельних визначень з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95 не повинна перевищувати величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.4.

Таблиця 4

Масова частка домішки вуглецю, %
Абсолютна допускається розбіжність, %

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

8,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

8,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

8,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

2·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

8,3·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)



Правильність результатів аналізу контролюють за п. 4.1.

4.2.3. Визначення азоту в кремнії із застосуванням радіохімічного виділення вуглецю

Метод застосовують визначення вмісту азоту в кремнії, якщо масова частка бору у ньому вбирається у 1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) %.

При визначенні азоту з дистиляції приладу (черт.2) виключити приймач 4, з'єднавши трубку з силікагелем 3 і проміжну ємність 5 хлорвінілової трубкою. Визначення виконують як зазначено у п. 4.2.2.2 .

За результат аналізу приймають середнє арифметичне двох обчислених за формулою (8) результатів паралельних визначень, кожен з яких отримано для однієї з двох пластин кремнію, опромінених при одному режимі прискорювача роботи (без перебудови по енергії).

Різниця більшого та меншого двох результатів паралельних визначень з довірчою ймовірністю ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1) 0,95 не повинна перевищувати величин абсолютних розбіжностей, що допускаються, наведених в табл.5.

Таблиця 5

Масова частка домішки азоту, %
Абсолютна допускається розбіжність, %

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

9,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

9,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

1·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)

9,5·10 ГОСТ 26239.7-84 Кремній напівпровідниковий. Метод визначення кисню, вуглецю та азоту (зі Зміною N 1)



Правильність результатів аналізу контролюють за п. 4.1.

4.2.1, 4.2.2, 4.2.2.1 , 4.2.2.2 , 4.2.3. (Змінена редакція, зміна N 1).