ГОСТ Р 56142-2014
ГОСТ 16274.1-77 Вісмут. Метод хіміко-спектрального аналізу (зі змінами N 1, 2, 3)
ГОСТ 16274.1-77
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
ВІСМУТ
Метод хіміко-спектрального аналізу
Bismu
ГОСТ 22720.4-77 ГОСТ 22519.4-77 ГОСТ 22720.2-77 ГОСТ 22519.6-77 ГОСТ 13462-79 ГОСТ 23862.24-79 ГОСТ 23862.35-79 ГОСТ 23862.15-79 ГОСТ 23862.29-79 ГОСТ 24392-80 ГОСТ 20997.5-81 ГОСТ 24977.1-81 ГОСТ 25278.8-82 ГОСТ 20996.11-82 ГОСТ 25278.5-82 ГОСТ 1367.7-83 ГОСТ 26239.9-84 ГОСТ 26473.1-85 ГОСТ 16273.1-85 ГОСТ 26473.2-85 ГОСТ 26473.6-85ГОСТ 26473.6-85 Сплави та лігатури на основі ванадію. Метод визначення молібдену (зі зміною N 1)
ГОСТ 26473.6-85
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
СПЛАВИ ТА ЛІГАТУРИ НА ОСНОВІ ВАНАДІЇ
Метод ви
ГОСТ 12223.1-76 ГОСТ 12645.7-77 ГОСТ 12645.1-77 ГОСТ 12645.6-77 ГОСТ 22720.3-77 ГОСТ 12645.4-77ГОСТ 12645.4-77 Індій. Хіміко-спектральний метод визначення алюмінію, вісмуту, кадмію, міді, марганцю, нікелю, свинцю, срібла та цинку (зі Змінами N 1, 2, 3, 4)
ГОСТ 12645.4-77
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ
ГОСТ 18385.4-79 Ніобій. Методи визначення танталу (зі змінами N 1, 2)
ГОСТ 18385.4-79
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
НІОБІЙ
Метод визначення танталу
Niobium. Метод для визначення значення
ГОСТ 18385.3-79 ГОСТ 23862.6-79 ГОСТ 23862.0-79 ГОСТ 23685-79 ГОСТ 23862.31-79ГОСТ 23862.31-79 Рідкоземельні метали та їх окиси. Методи визначення торію та празеодиму (зі Змінами N 1, 2)
ГОСТ 23862.31-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
РІДКОЗЕМЕЛЬНІ МЕТАЛИ ТА ЇХ ОКИСУ
Методи
ГОСТ 23862.18-79 Неодим, гадоліній та їх окису. Метод визначення домішок оксидів рідкісноземельних елементів (зі зміною N 1)
ГОСТ 23862.18-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
НЕОДИМ, ГАДОЛІНІЙ ТА ЇХ ОКИСУ
ГОСТ 23862.7-79 Рідкоземельні метали та їх окиси. Хіміко-спектральні методи визначення домішок оксидів рідкісноземельних елементів (зі змінами N 1, 2)
ГОСТ 23862.7-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
ГОСТ 23862.23-79 Рідкоземельні метали та їх окиси. Методи визначення марганцю (зі зміною N 1)
ГОСТ 23862.23-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
РІДКОЗЕМЕЛЬНІ МЕТАЛИ ТА ЇХ ОКИСУ
Методи визначення марг
ГОСТ 23862.10-79ГОСТ 23862.10-79 Рідкоземельні метали та їх окиси. Хіміко-спектральні методи визначення домішок ванадію, вольфраму, заліза, кобальту, марганцю, міді, молібдену, нікелю, ніобію, свинцю, танталу, титану та хрому (із Змінами N 1, 2)
ГОСТ 23
ГОСТ 23862.9-79 Неодим, гадоліній, тербій, диспрозій, гольмій, ербій, тулій та їх окису. Хіміко-спектральний метод визначення домішок оксидів рідкісноземельних елементів (зі зміною N 1)
ГОСТ 23862.9-79
Група В59
ГОСТ 23862.12-79 Церій та його двоокис. Хіміко-спектральний метод визначення заліза, кобальту, марганцю, міді та нікелю (зі зміною N 1)
ГОСТ 23862.12-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
ЦЕРІЙ І ЙОГО ДВОКИСЬ
ГОСТ 23862.13-79 Лантан, неодим, гадоліній, диспрозій, ітрій та їх окису. Метод визначення домішок окисів празеодиму, неодиму, самарію, європію, гадолінію, тербію, диспрозію (зі Змінами N 1, 2)
ГОСТ 23862.13-79
Група В59
ГОСТ 25278.9-82 Сплави та лігатури рідкісних металів. Методи визначення титану (зі змінами N 1, 2)
ГОСТ 25278.9-82
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
СПЛАВИ ТА ЛІГАТУРИ РІДКИХ МЕТАЛІВ
Методи ви
ГОСТ 20996.9-82 ГОСТ 12554.1-83 ГОСТ 1367.4-83 ГОСТ 12555.1-83 ГОСТ 1367.6-83 ГОСТ 1367.3-83 ГОСТ 1367.9-83 ГОСТ 1367.10-83 ГОСТ 12554.2-83 ГОСТ 26239.4-84 ГОСТ 9816.2-84 ГОСТ 26473.9-85 ГОСТ 26473.0-85 ГОСТ 12645.11-86 ГОСТ 12645.12-86 ГОСТ 8775.3-87 ГОСТ 27973.0-88 ГОСТ 18904.8-89 ГОСТ 18904.6-89 ГОСТ 18385.0-89 ГОСТ 14339.5-91 ГОСТ 14339.3-91ГОСТ 14339.3-91 Вольфрам. Методи визначення вмісту фосфору
ГОСТ 14339.3-91
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
ВОЛЬФРАМ
Методи визначення вмісту фосфору
Tungsten. Методи для визначення phosphor
ГОСТ 16321.1-70 ГОСТ 16883.2-71 ГОСТ 16882.1-71 ГОСТ 12223.0-76 ГОСТ 12552.2-77 ГОСТ 12645.3-77 ГОСТ 16274.2-77 ГОСТ 16274.10-77 ГОСТ 12552.1-77 ГОСТ 22720.1-77 ГОСТ 16274.4-77 ГОСТ 16274.7-77 ГОСТ 12228.1-78 ГОСТ 12561.1-78 ГОСТ 12558.2-78 ГОСТ 12224.1-78 ГОСТ 23862.22-79 ГОСТ 23862.21-79 ГОСТ 23687.2-79 ГОСТ 23862.25-79ГОСТ 23862.25-79 Рідкоземельні метали та їх окиси. Методи визначення кобальту та нікелю (зі Зміною N 1)
ГОСТ 23862.25-79
Група В59
МІЖДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ
РІДКОЗЕМЕЛЬНІ МЕТАЛИ ТА ЇХ ОКИСУ
Методи визначення
ГОСТ 23862.4-79 ГОСТ 18385.1-79 ГОСТ 23687.1-79 ГОСТ 23862.34-79 ГОСТ 23862.17-79 ГОСТ 23862.27-79 ГОСТ 17614-80 ГОСТ 12340-81 ГОСТ 31291-2005 ГОСТ 20997.1-81 ГОСТ 20997.4-81 ГОСТ 20996.2-82 ГОСТ 12551.2-82 ГОСТ 12559.1-82 ГОСТ 1089-82 ГОСТ 12550.1-82 ГОСТ 20996.5-82 ГОСТ 20996.3-82 ГОСТ 12550.2-82 ГОСТ 20996.8-82 ГОСТ 14338.4-82 ГОСТ 25278.12-82 ГОСТ 25278.11-82 ГОСТ 12551.1-82 ГОСТ 25278.3-82 ГОСТ 20996.6-82 ГОСТ 25278.6-82 ГОСТ 14338.1-82 ГОСТ 14339.4-82 ГОСТ 20996.10-82 ГОСТ 20996.1-82 ГОСТ 12645.9-83 ГОСТ 12563.2-83 ГОСТ 19709.1-83 ГОСТ 1367.11-83 ГОСТ 1367.0-83 ГОСТ 19709.2-83 ГОСТ 12645.0-83 ГОСТ 12555.2-83 ГОСТ 1367.1-83 ГОСТ 9816.3-84 ГОСТ 9816.4-84 ГОСТ 9816.1-84 ГОСТ 9816.0-84 ГОСТ 26468-85 ГОСТ 26473.11-85 ГОСТ 26473.12-85ГОСТ 26473.12-85 Сплави та лігатури на основі ванадію. Метод атомно-абсорбційного аналізу (зі зміною N 1)
ГОСТ 26473.12-85
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
СПЛАВИ ТА ЛІГАТУРИ НА ОСНОВІ ВАНАДІЇ
ГОСТ 26473.7-85
ГОСТ 16273.0-85
ГОСТ 26473.3-85
ГОСТ 26473.8-85
ГОСТ 26473.13-85
ГОСТ 25278.13-87
СПЛАВИ ТА ЛІГАТУРИ РІДКИХ МЕТАЛІВ Методи вГОСТ 25278.13-87 Сплави та лігатури рідкісних металів. Методи визначення вольфраму (зі зміною N 1)
ГОСТ 25278.13-87
Група В59
ДЕРЖАВНИЙ СТАНДАРТ СПІЛКИ РСР
ГОСТ Р 56142-2014 Срібло. Методи атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням спектра
ГОСТ Р 56142-2014
НАЦІОНАЛЬНИЙ СТАНДАРТ РОСІЙСЬКОЇ ФЕДЕРАЦІЇ
СРІБЛО
Методи атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням спектра
Silver. Method of ark atomic-emission analysis
ГКС 77.120.99
ОКСТУ 1709
Дата введення 2015-09-01
Передмова
1 РОЗРОБЛЕНО Відкритим акціонерним товариством «Приокський завод кольорових металів», Федеральним державним унітарним підприємством «Московський завод спеціальних сплавів», Відкритим акціонерним товариством «Єкатеринбурзький завод з обробки кольорових металів», Відкритим акціонерним товариством «Уралелектромедь», імені В.Н.Гулідова», Державним науковим центром - Державним науково-дослідним та проектним інститутом рідко-металічної промисловості «Гіредмет».
2 ВНЕСЕН Технічним комітетом зі стандартизації ТК 304 «Благородні метали, сплави, промислові ювелірні вироби з них, вторинні ресурси, що містять шляхетні метали»
3 ЗАТВЕРДЖЕНИЙ І ВВЕДЕНИЙ У ДІЮ Наказом Федерального агентства з технічного регулювання та метрології від 25 вересня 2014 р. N 1223-ст
4 ВВЕДЕНО ВПЕРШЕ
Правила застосування цього стандарту встановлені у ГОСТ Р 1.0-2012 (розділ 8). Інформація про зміни до цього стандарту публікується у щорічному (станом на 1 січня поточного року) інформаційному покажчику «Національні стандарти», а офіційний текст змін та поправок — у щомісячному інформаційному покажчику «Національні стандарти». У разі перегляду (заміни) або скасування цього стандарту відповідне повідомлення буде опубліковано у найближчому випуску інформаційного покажчика «Національні стандарти». Відповідна інформація, повідомлення та тексти розміщуються також в інформаційній системі загального користування - на офіційному сайті Федерального агентства з технічного регулювання та метрології в мережі Інтернет (gost.ru)
1 Область застосування
Цей стандарт поширюється на срібло з масовою часткою срібла не менше 99,5%.
Стандарт встановлює спектрографічний метод атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням спектра для визначення масової частки домішок: алюмінію, вісмуту, заліза, золота, іридію, кальцію, кобальту, кремнію, магнію, марганцю, міді, миш'яку, нікелю, олова, паладію, платини, родію, свинцю, сурми, телуру, цинку, а також спектрометричний метод атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням спектра для визначення масової частки домішок: алюмінію, вісмуту, галію, германію, заліза, золота, індії, іридію, кадмію, кальцію, кремнію, магнію, марганцю, міді, миш'яку, нікелю, олова, паладію, платини, родію, свинцю, селену, сурми, телуру, титану, хрому та цинку у сріблі. Вимоги до хімічного складу срібла встановлені
2 Нормативні посилання
У цьому стандарті використано нормативні посилання на такі стандарти:
ГОСТ Р 8.563-2009 Державна система забезпечення єдності вимірів. Методики (методи) вимірів
ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002 Точність (правильність та прецизійність) методів та результатів вимірювань. Частина 1. Основні положення та визначення
ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 Точність (правильність та прецизійність) методів та результатів вимірювань. Частина 2. Основний метод визначення повторюваності та відтворюваності стандартного методу вимірювань
ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002 Точність (правильність та прецизійність) методів та результатів вимірювань. Частина 3. Проміжні показники прецизійності стандартного методу вимірів
ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002 Точність (правильність та прецизійність) методів та результатів вимірювань. Частина 4. Основні методи визначення правильності стандартного методу вимірів
ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002 Точність (правильність та прецизійність) методів та результатів вимірювань. Частина 6. Використання значень точності практично
ГОСТ Р 51652-2000 Спирт етиловий ректифікований з харчової сировини. Технічні умови
ДЕРЖСТАНДАРТ Р 52361-2005 Контроль об'єкта аналітичний. терміни та визначення
ГОСТ Р 52599-2006 Дорогоцінні метали та їх сплави. Загальні вимоги до методів аналізу
ГОСТ Р 53228-2008 Ваги неавтоматичної дії. Частина 1. Метрологічні та технічні вимоги. Випробування
ГОСТ 334-73 Папір масштабно-координатний. Технічні умови
ГОСТ 5556-81 Вата медична гігроскопічна. Технічні умови
ГОСТ 6709-72 Вода дистильована. Технічні умови
ГОСТ 9147-80 Посуд та обладнання лабораторні фарфорові. Технічні умови
ГОСТ 14261-77 Кислота соляна особливої чистоти. Технічні умови
ГОСТ 25336-82 Посуд та обладнання лабораторні скляні. Типи, основні параметри та розміри
ГОСТ 28595-90 Срібло у зливках. Технічні умови
ГОСТ 29298−2005 Тканини бавовняні та змішані побутові. Загальні технічні умови
Примітка — При користуванні цим стандартом доцільно перевірити дію стандартів посилань в інформаційній системі загального користування — на офіційному сайті Федерального агентства з технічного регулювання та метрології в мережі Інтернет або за щорічним інформаційним покажчиком «Національні стандарти», який опублікований станом на 1 січня поточного року та за випусками щомісячного інформаційного покажчика «Національні стандарти» за поточний рік. Якщо замінений стандарт посилання, на який дано недатоване посилання, рекомендується використовувати діючу версію цього стандарту з урахуванням усіх внесених до цієї версії змін. Якщо замінений стандарт, на який дано датоване посилання, то рекомендується використовувати версію цього стандарту із зазначеним вище роком затвердження (прийняття). Якщо після затвердження цього стандарту до посилального стандарту, на який дано датоване посилання, внесено зміну, що стосується положення, на яке дано посилання, то це положення рекомендується застосовувати без урахування цієї зміни. Якщо стандарт посилається без заміни, то положення, в якому дано посилання на нього, рекомендується застосовувати в частині, що не зачіпає це посилання.
3 Терміни та визначення
У цьому стандарті застосовані терміни за ГОСТ Р 8.563, ГОСТ Р ІСО 5725-1, ГОСТ Р 52361.
4 Точність (правильність та прецизійність) методів
4.1 Показники точності методів
Показники точності методів (спектрографічного та спектрометричного з дуговим збудженням спектра) за ГОСТ Р ІСО 5725-2 та ГОСТ Р ІСО 5725-3: межі інтервалу, в якому з ймовірністю Р =0,95 знаходиться абсолютна похибка результатів аналізу (приписана похибка) , стандартні відхилення повторюваності S
та проміжної прецизійності S
значення критичного діапазону CR
(4), межі проміжної прецизійності R
і межі відтворюваності R - залежно від масової частки обумовленого елемента наведені в таблиці 1.
Таблиця 1 - Показники точності методів ( Р = 0,95)
В процентах | ||||||
Масові частки визна- лених елементів | Межі інтервалу абсолютної похибки | Стандартне відхилення повторюючи- ємності Sr | Критичний діапазон | Стандартне | Межа проміж- | Межа відтворення димості R |
0,00010 | 0,00005 | 0,00002 | 0,00007 | 0,00003 | 0,00008 | 0,00010 |
0,00030 | 0,00014 | 0,00005 | 0,00018 | 0,00007 | 0,00019 | 0,00023 |
0,00050 | 0,00025 | 0,00010 | 0,00036 | 0,00013 | 0,00036 | 0,00043 |
0,0010 | 0,0004 | 0,00013 | 0,0005 | 0,0002 | 0,0006 | 0,0007 |
0,0030 | 0,0008 | 0,0003 | 0,0011 | 0,0004 | 0,0011 | 0,0013 |
0,0050 | 0,0016 | 0,0006 | 0,0022 | 0,0008 | 0,0022 | 0,0027 |
0,010 | 0,003 | 0,001 | 0,004 | 0,0014 | 0,004 | 0,005 |
0,020 | 0,006 | 0,002 | 0,007 | 0,003 | 0,008 | 0,010 |
Для проміжних значень масових часток значення показників точності знаходять методом лінійної інтерполяції за формулою
, (1)
де А - Показник точності для результату аналізу X ;
А , А
- Показники точності, що відповідають найменшому і найбільшому значенням інтервалу масових часток, в якому знаходиться результат аналізу;
З , З
- Найменше і найбільше значення інтервалу масових часток, в якому знаходиться результат аналізу.
4.1.1 Правильність
Для оцінки систематичної похибки цих методів визначення елементів у сріблі використовують як опорні значення атестовані значення масових часток елементів у державних стандартних зразках складу срібла ДСО 7817-2000 (комплект СН) або інших ДСО, які не поступаються за набором визначених елементів та метрологічних характеристик.
Систематична похибка методів за рівня значимості =5% незначна за ГОСТ Р ИСО 5725−4 всім визначених елементів у сріблі всіх рівнях визначених змістів.
4.1.2 Прецизійність
4.1.2.1 Діапазон ( Х макс- Х хв) чотирьох результатів одиничних визначень, отриманих для однієї і тієї ж проби одним оператором з використанням одного і того ж обладнання в межах найкоротшого з можливих інтервалів часу, може перевищувати вказаний у таблиці 1 критичний діапазон CR для n = 4 за ГОСТ Р ИСО 5725-6 в середньому не частіше ніж один раз у 20 випадках.
4.1.2.2 У межах однієї лабораторії два результати аналізу (з чотирьох одиничних визначень кожен) однієї і тієї ж проби, отримані різними операторами з використанням одного і того ж обладнання в різні дні, можуть відрізнятися з перевищенням вказаної в таблиці 1 межі проміжної прецизійності R за ГОСТ Р ИСО 5725-3 в середньому не частіше ніж один раз у 20 випадках.
4.1.2.3 Результати аналізу (з чотирьох одиничних визначень кожен) однієї і тієї ж проби, отримані двома лабораторіями, можуть відрізнятися з перевищенням зазначеної в таблиці 1 межі відтворюваності R за ГОСТ Р ИСО 5725-1 в середньому не частіше ніж один раз у 20 випадках.
4.2 Оцінка прийнятності результатів паралельних визначень та отримання остаточного результату аналізу
4.2.1 Прийнятність результатів паралельних визначень оцінюють відповідно до ГОСТ Р ISO 5725-6 шляхом зіставлення діапазону цих результатів (Xmax-Xmin) з критичним діапазоном CR (4), наведеним у таблиці 1.
4.2.2 Якщо діапазон результатів чотирьох паралельних визначень (Xmax-Xmin) не перевищує критичного діапазону CR
(4), всі результати визнають прийнятними і за остаточний результат аналізу набувають середнього арифметичного значення результатів чотирьох паралельних визначень.
4.2.3 Якщо діапазон результатів чотирьох паралельних визначень перевищує CR (4), повторюють аналіз.
Розраховують критичний діапазон для восьми паралельних визначень CR (8) за формулою
CR (8) = 4,3 S
(2)
де S - Значення стандартного відхилення повторюваності, наведене в таблиці 1, %.
Якщо для отриманих восьми паралельних визначень значення (Xmax-Xmin) не перевищує критичного діапазону CR (8), то як остаточний результат аналізу приймають середнє арифметичне значення результатів восьми паралельних визначень. В іншому випадку як остаточний результат аналізу приймають медіану результатів восьми паралельних визначень.
4.3 Контроль точності результатів аналізу
4.3.1 Контроль проміжної прецизійності та відтворюваності
При контролі проміжної прецизійності (з факторами, що змінюються, оператора і часу) абсолютне значення різниці двох результатів аналізу однієї і тієї ж проби, отриманих різними операторами з використанням одного і того ж обладнання в різні дні, не повинно перевищувати межу проміжної прецизійності R
, зазначений у таблиці 1
При контролі відтворюваності абсолютне значення різниці двох результатів аналізу однієї і тієї ж проби, отриманих двома лабораторіями відповідно до вимог цього стандарту, не повинно перевищувати межу відтворюваності R , зазначену в таблиці 1.
4.3.2 Контроль правильності
Контроль правильності проводять шляхом аналізу стандартних зразків складу срібла. Зразки, які використовуються для контролю правильності, не можуть використовуватися для отримання градуювальних залежностей.
При контролі правильності різниця між результатом аналізу та прийнятим опорним (атестованим) значенням масової частки елемента в стандартному зразку не повинна перевищувати критичне значення К .
Критичне значення К розраховують за формулою
, (3)
де - Абсолютна похибка встановлення опорного (атестованого) значення масової частки елемента в стандартному зразку, %;
- межі інтервалу абсолютної похибки результату аналізу (значення
наведено у таблиці 1), %.
5 Вимоги
5.1 Загальні вимоги та вимоги безпеки
Загальні вимоги до методу аналізу, вимоги до забезпечення безпеки робіт, що виконуються, — за ГОСТ Р 52599.
5.2 Вимоги до кваліфікації виконавців
До проведення аналізу допускаються особи не молодші 18 років, навчені в установленому порядку та допущені до самостійної роботи на обладнанні, що використовується.
6 Сутність методів
Методи аналізу засновані на випаровуванні та збудженні атомів проби в дуговому розряді, вимірюванні інтенсивності випромінювання атомів визначених елементів та подальшому визначенні масової частки цих елементів за допомогою градуювальних залежностей, отриманих за стандартними зразками складу срібла.
7 Спектрографічний метод атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням
При спектрографічному методі використовують фотографічну реєстрацію емісійних спектрів.
Даний метод дозволяє визначити масову частку елементів діапазонах, наведених у таблиці 2, з показниками точності методу аналізу, зазначеними в таблиці 1.
Таблиця 2 - Діапазони вимірювань масових часток визначених елементів
Визначається елемент | Діапазон вимірювання масової частки, % |
Алюміній | Від 0,0003 до 0,01 вмикання. |
Вісмут | Від 0,0001 до 0,01 включно. |
Залізо | Від 0,0002 до 0,02 включно. |
Золото | Від 0,0002 до 0,02 включно. |
Іридій | Від 0,0005 до 0,005 вмикання. |
Кальцій | Від 0,0003 до 0,01 вмикання. |
Кобальт | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Кремній | Від 0,0003 до 0,01 вмикання. |
Магній | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Марганець | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Мідь | Від 0,0001 до 0,02 включно. |
Миш'як | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Нікель | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Олово | Від 0,0002 до 0,02 включно. |
Паладій | Від 0,0002 до 0,02 включно. |
Платина | Від 0,0002 до 0,02 включно. |
Родій | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Свинець | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Сурма | Від 0,0001 до 0,01 включно. |
Телур | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
Цинк | Від 0,0002 до 0,01 вмикання. |
7.1 Засоби вимірювань, допоміжні пристрої, матеріали та реактиви
Дифракційний спектрограф з трилінзовою системою конденсорів, призначений для отримання спектрів в діапазоні 200-400 нм, зі зворотною лінійною дисперсією 0,6-0,7 нм/мм.
Генератор дуги змінного струму силою до 15 А
Мікроденситометр, призначений для вимірювання оптичної густини (почорніння) спектральних ліній.
Ваги неавтоматичної дії за ГОСТ Р 53228 з межами абсолютної похибки зважування, що допускається, не більше ±3 мг.
Пекти опору.
Тиглі виготовлені з графіту ос.ч. [1] *.
________________
* Поз. [1]-[3] див. розділ Бібліографія. - Примітка виробника бази даних.
Електроди графітові ос.ч. [2] діаметром 6 мм з кратером глибиною 1-3 мм та діаметром 4 мм.
Електроди графітові ос.ч. [2] діаметром 6 мм, заточені на півсферу або усічений конус.
Фотопластинки Фотографічні спектрографічні ПФС-03 [3].
Проявник контрастний та фіксаж для фотопластинок.
Плита електрична із закритою спіраллю.
Стакани хімічні термостійкі за
Тигель та чашка порцелянова за
Кислота соляна ос.ч. за
Спирт етиловий, ректифікований за ГОСТ Р 51652.
Вода дистильована за
Пінцет хірургічний.
Тканина бавовняна за
Вата медична
Папір масштабно-координатний за
Зразки для градуювання (зразки срібла з раніше встановленими значеннями масових часток елементів - домішок).
Стандартні зразки складу срібла ДСО 7817-2000 (комплект СН), або інші, що не поступаються за складом елементів та точності.
Допускається застосування інших засобів вимірювань, допоміжних пристроїв, матеріалів та реактивів за умови отримання показників точності, які не поступаються зазначеним у таблиці 1.
7.2 Відбір та підготовка проб
7.2.1 Проби для аналізу відбирають відповідно до стандарту, що встановлює вимоги до хімічного складу срібла.
7.2.2 Проби срібла можуть надходити на аналіз у вигляді стрічки, дроту, стружки, губки, порошку, гранул, кристалів.
7.2.3 Проби, що надходять на аналіз у вигляді стрічки, дроту, гранул або стружки, поміщають у порцелянову чашку або скляну склянку, додають розчин соляної кислоти 1:1 і кип'ятять 5-10 хв. Отриманий розчин зливають, проби промивають дистильованою водою декантацією 4-5 разів і висушують на повітрі.
Проби порошку, губки та кристалів кислотою не обробляють.
7.2.4 Від проб срібла, що надходять на аналіз, відбирають по чотири навішування, від зразків для градуювання або стандартних зразків - по дві навішування масою 200 мг кожна. Допускається взяття наважок іншої маси за умови отримання показників точності, що не поступаються зазначеним у таблиці 1.
7.2.5 Наважки переносять у графітові тиглі, сплавляють у печі опору та отримують корольки. Отримані корольки протирають спиртом або проварюють у розчині соляної кислоти 1:1 за п.
7.3 Підготовка до проведення вимірювань
7.3.1 Обладнання готують до роботи згідно з інструкціями з експлуатації. Довжини хвиль аналітичних ліній, лінії порівняння та фону, робочі режими приладів, що рекомендуються для виконання аналізу, наведені у таблицях 3 та 4 відповідно. Для кожного елемента вибирають одну з рекомендованих довжин хвиль. Допускається використання інших ліній та робочих режимів за умови отримання показників точності, які не поступаються зазначеним у таблиці 1.
7.3.2 Електродотримачі та пристрої очищають спиртом від поверхневих забруднень.
7.3.3 Включають водяне охолодження електроутримувачів.
7.3.4 Графітові тиглі та графітові електроди перед використанням обпалюють протягом 5-10 с при силі струму 5-6 А.
7.3.5 Підготовлену до аналізу навішування або королек срібла поміщають у кратер графітового електрода. Контрелектрод служить графітовий стрижень, заточений на півсферу або усічений конус.
7.3.6 Межлектродний проміжок встановлюють за збільшеним зображенням дуги на екрані проміжної діафрагми 5 мм і підтримують строго постійним, коригуючи його протягом усієї експозиції.
Таблиця 3 - Довжини хвиль аналітичних ліній елементів
Визначається елемент | Довжина хвилі аналітичної лінії, нм |
Алюміній | 309,27 308,22 |
Вісмут | 289,80 306,77 |
Галій | 287,42 403,30 |
Німеччина | 270,96 303,91 |
Залізо | 259,94 302,06 |
Золото | 267,59 259,59 |
Індій | 325,61 |
Іридій | 266,47 322,08 |
Кадмій | 228,80 |
Кальцій | 315,89 |
Кобальт | 340,51 345,35 |
Кремній | 288,15 |
Магній | 285,21 280,27 |
Марганець | 257,28 279,48 280,10 |
Мідь | 249,22 324,75 |
Миш'як | 234,98 |
Нікель | 227,02 305,08 |
Олово | 283,99 266,12 |
Паладій | 324,27 340,46 342,12 |
Платина | 265,94 |
Родій | 339,68 343,49 |
Свинець | 261,42 266,32 280,19 |
Селен | 203,98 |
Сурма | 259,81 287,79 |
Телур | 238,58 |
Титан | 334,94 |
Хром | 302,15 |
Цинк | 334,50 |
Таблиця 4 - Рекомендовані робочі режими
Найменування параметру | Значення параметру |
Дуга змінного струму: | |
частота розрядів, Гц | 100 |
фіксоване значення фази підпалу, град. | 60 |
сила струму, А | 5-6 |
Умови фотографування спектрів: | |
ширина щілини, мм | 0,010-0,015 |
експозиція, з | 25-60 |
7.4 Проведення вимірів
7.4.1 Для отримання градуювального графіка використовують стандартні зразки складу срібла або зразки для градуювання. Спектри кожного стандартного зразка (зразка для градуювання) та аналізованої проби фотографують в однакових умовах. Для кожного стандартного зразка (зразка для градуювання) одержують дві, а для проби, що аналізується, — чотири спектрограми.
7.4.2 При вмісті міді більше 0,012% та заліза понад 0,002% використовують триступеневий ослаблювач.
7.4.3 Фотопластинки виявляють, обполіскують у воді, фіксують, промивають у проточній воді та сушать.
7.4.4 За допомогою мікроденситометра на кожній спектрограмі вимірюють почорніння аналітичної лінії елемента, що визначається S , (таблиця 3) та прилеглого фону S
(мінімальне почорніння поряд з аналітичною лінією з будь-якої сторони, але з однією і тією ж у всіх спектрах на одній фотопластинці) або лінії порівняння S
. Обчислюють різницю почорнінь
S = S
- S
( S
). Від отриманих значень
S переходять до значень Ig ( I
/I
) за допомогою таблиці, наведеної в додатку А. Використовуючи значення IgC та Ig ( I
/I
), отримані для стандартних зразків, будують на масштабно-координатному папері градуювальний графік в координатах ( IgC, Ig ( I
/I
), де С - масова частка визначеного елемента в стандартному зразку (зразок для градуювання). За чотирма значеннями Ig ( I
/I
)1
Ig ( I
/I
)4, отриманим за чотирма спектрограмами для кожного визначається елемента, знаходять за графіком значення X - логарифма значення масової частки. За формулою С = 10
обчислюють значення масових часток домішки результати паралельних визначень.
Допускається використання інших ліній, а також виконання процедури побудови градуювальних графіків із застосуванням відповідних програм обчислювальної техніки за умови отримання показників точності, які не поступаються зазначеним у таблиці 1.
7.4.5 В області верхньої межі діапазону масових часток допускається побудова градуювальних графіків у координатах S - IgC , де
S - різниця почорнінь аналітичної лінії та лінії порівняння (срібло).
7.4.6 За градуювальним графіком, використовуючи чотири паралельні значення Ig ( I /I
) або
S , відповідно, отримані по чотирьох спектрограм для кожної проби, знаходять чотири результати паралельних визначень масової частки кожного елемента в аналізованій пробі. Результат аналізу обчислюється як середнє арифметичне із чотирьох паралельних визначень.
8 Спектрометричний метод атомно-емісійного аналізу з дуговим збудженням
При спектрометричному методі використовують фотоелектричний спосіб реєстрації емісійних спектрів.
Метод дозволяє визначити масові частки елементів у діапазонах, наведених у таблиці 5.
Таблиця 5 - Діапазони вимірювань масових часток визначених елементів
Визначається елемент | Діапазон вимірювання масової частки, % |
Алюміній | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Вісмут | Від 0,0001 до 0,010 вмикання. |
Галій | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Німеччина | Від 0,0002 до 0,003 включно. |
Залізо | Від 0,0001 до 0,020 включно. |
Золото | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Індій | Від 0,0005 до 0,005 вмикання. |
Іридій | Від 0,0005 до 0,005 вмикання. |
Кадмій | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Кальцій | Від 0,0003 до 0,010 включно. |
Кобальт | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Кремній | Від 0,0003 до 0,010 включно. |
Магній | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Марганець | Від 0,0001 до 0,010 вмикання. |
Мідь | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Миш'як | Від 0,0002 до 0,010 включно. |
Нікель | Від 0,0002 до 0,010 включно. |
Олово | Від 0,0002 до 0,010 включно. |
Паладій | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Платина | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Родій | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Свинець | Від 0,0002 до 0,020 включно. |
Селен | Від 0,0005 до 0,010 включно. |
Сурма | Від 0,0002 до 0,010 включно. |
Телур | Від 0,0005 до 0,020 включно. |
Титан | Від 0,0002 до 0,003 включно. |
Хром | Від 0,0002 до 0,005 вмикання. |
Цинк | Від 0,0002 до 0,010 включно. |
8.1 Засоби вимірювань, допоміжні пристрої, матеріали та реактиви
Спектрометр оптичний емісійний зі зворотною лінійною дисперсією не більше 0,6 нм/мм, спектральною областю 170-500 нм або спектрограф зі зворотною лінійною дисперсією не більше 0,6 нм/мм, спектральною областю, 170-500 нм та реєстрацією на діод МАЕС).
Генератор дуги змінного струму до 15 А
Аналізатор багатоканальних атомно-емісійних спектрів (МАЕС) із програмним забезпеченням — «Атом».
Ваги неавтоматичної дії за ГОСТ Р 53228 з межами абсолютної похибки зважування, що допускається, не більше ±3 мг.
Пекти опору.
Плита електрична із закритою спіраллю.
Тиглі, виготовлені з графіту ос.ч. [1].
Електроди графітові ос.ч. [2] діаметром 6 мм з кратером глибиною 1-3 мм та діаметром 4 мм.
Електроди графітові ос.ч. [2] діаметром 6 мм, заточені на півсферу або усічений конус.
Стакани хімічні термостійкі за
Кислота соляна ос.ч. за
Спирт етиловий, ректифікований за ГОСТ Р 51652.
Вода дистильована за
Тигель та чашка порцелянова за
Пінцет хірургічний.
Тканина бавовняна за
Вата медична
Зразки для градуювання (зразки срібла з встановленими значеннями масових часток елементів-домішок).
Стандартні зразки складу срібла ДСО 7817 (комплект СН), або інші, що не поступаються за складом елементів-домішок та точності.
Допускається застосування інших засобів вимірювань, допоміжних пристроїв, матеріалів та реактивів за умови отримання показників точності, які не поступаються зазначеним у таблиці 1.
8.2 Відбір та підготовка проб
8.2.1 Відбір та підготовку проб до аналізу здійснюють за 7.2
8.3 Підготовка обладнання для проведення вимірювань
Обладнання готують до роботи згідно з інструкціями з експлуатації. Робочі режими спектрометра наведені в таблиці 6. Допускається використання інших робочих режимів за умови отримання показників точності, які не поступаються зазначеним у таблиці 1.
Таблиця 6 - Рекомендовані робочі режими спектрометра
Найменування параметру | Значення параметру |
Дуга змінного струму: | |
частота розрядів, Гц | 100 |
фіксоване значення фази підпалу, град. | 90 |
сила струму, А | 5-6 |
Умови реєстрації спектрів: | |
ширина щілини, мм | 0,010-0,015 |
експозиція, з | 25-60 |
8.4 Проведення вимірів
8.4.1 Підготовлену до аналізу навішування проби або стандартного зразка поміщають у поглиблення нижнього графітового електрода. Протиелектрод служить графітовий електрод, заточений на усічений конус або півсферу.
Міжелектродний проміжок 1,5-2,5 мм встановлюють по проміжній діафрагмі висотою 5 мм, підтримуючи постійним протягом всієї експозиції. Між електродами запалюють дугу змінного струму.
8.4.2 Параметри багатоканального аналізатора атомно-емісійних спектрів (МАЕС):
час одиничної експозиції - 250 мс;
накопичень у циклі - 120;
тривалість циклу - 120;
повна експозиція - 30 с.
Реєстрація темнового струму проводиться двічі перед початком роботи та регулярно кожні 30-40 хв під час роботи.
Як реперна лінія використовується лінія вуглецю 247,85 нм або лінія срібла 330,57 нм.
8.4.3 Під час дії дугового розряду автоматично вимірюється інтенсивність аналітичної лінії кожного з визначених елементів, лінії порівняння та фону під максимумом піку на відповідних довжинах хвиль.
Для отримання градуювальної залежності проводять вимірювання інтенсивності аналітичних ліній елементів, лінії порівняння і фону для стандартних зразків (зразків для градуювання) складу срібла. Градуювальні графіки будуються автоматично відповідно до аналітичної програми «Атом» в координатах IgС - Igl , де IgС - логарифм атестованого значення домішки в стандартному зразку, Igl - логарифм інтенсивності аналітичної лінії з урахуванням лінії порівняння або фону.
8.4.4 Відповідно до аналітичної програми обчислення змісту елемента обчислюється автоматично з виведенням інформації на монітор. За результат аналізу приймають середнє арифметичне із чотирьох результатів паралельних визначень з реєстрацією результату аналізу на друкувальному пристрої або спеціальному журналі за умови виконання вимог розділу 4.
8.4.5 Довжини хвиль аналітичних ліній, які рекомендуються для виконання аналізу, наведено в таблиці 3.
Допускається використання інших аналітичних ліній та режимів роботи та параметрів МАЕС за умови отримання показників точності, що не поступаються зазначеним у таблиці 1.
Додаток, А (обов'язковий). Таблиця значень Ig (I(л)/I(ф)), що відповідають виміряним значенням «дельта"S/"гамма»
Додаток А
(обов'язкове)
Таблиця значень Ig (I /I
), відповідних виміряним значенням
S/
Таблиця А.1 служить перекладу виміряних значень S /
та lgI
/I
. Таблиця містить результати розрахунку у формулі
lg I /I
= Ig (10
-1), (А.1)
де S - різниця щільності почорнінь на фотопластинці;
- Фактор контрастності.
Позначимо сумарну інтенсивність лінії разом із тлом I , інтенсивність фону під максимумом лінії без лінії I
. Оскільки I
= I
+ I
, то відношення інтенсивності лінії I
до інтенсивності фону визначають за формулою
I / I
= I
/ I
-1, (А.2)
Якщо умови фотографування спектру вибрані так, що почорніння лінії з тлом S і фону без лінії S
лежать у нормальній області, то
lg I /I
=
S /
, де
S=S
- S
(А.3)
Звідси, користуючись виразом I / I
= I
/ I
-1, отримуємо
lg I /I
=lg (I
/ I
-1) = lg (10
-1). (А.4)
Таблиця А.1 охоплює найважливіші для практики аналітичної роботи значення S /
від 0,05 до 1,90.
Таблиця складається з двох частин: частини, що охоплює значення S /
від 0,05 до 0,99 та частини, що охоплює значення
S /
від 1,00 до 1,90.
У першій частині таблиці, у першій графі представлені значення S /
із двома знаками після коми, цифри в головках інших граф від 0 до 9 означають третій знак після коми значення
S /
.
Наприклад, S /
=0,537: знаходять у першій графі значення 0,53 і у графі з цифрою 7 визначають відповідне значення логарифму lg I
/I
= 0,388.
Друга частина таблиці побудована аналогічно з тією різницею, що в першій графі наводяться значення S /
з одним знаком після коми, а цифри в головках інших граф позначають другий після коми знак значення
S /
.
Наприклад, S /
=1,36 у першій графі знаходять значення 1,3, у графі з цифрою 6 знаходять значення логарифму lg I
/I
= 1,341.
Для значень S /
менших, ніж 0,301, значення lg I
/I
негативне – знак мінус над характеристикою (±1…).
Оскільки lg I /I
=
S /
таблиця може бути застосована також і для знаходження значення lg I
/I
, що відповідає значенням lg I
/I
за будь-якого способу вимірювання.
Якщо фактор контрастності не вимірюють, то замість значень
S /
у таблиці застосовують значення
S при цьому використовують справжню таблицю аналогічним чином. Якщо виміряне значення
S =0,674, то першій графі знаходять значення 0,67 й у графі з цифрою 4 визначають значення логарифму 0,571.
Слід зазначити, що знайдене таким чином значення 0,571 є не lg I /I
, a Ig (10
-1). На точності аналізу методом «трьох еталонів» ця обставина мало відбивається.
Таблиця А.1 * - Значення lg (I /I
), відповідні виміряним значенням
S /
Закінчення таблиці А.1
________________
* Значення, наведені в таблиці, відповідають оригіналу. - Примітка виробника бази даних.
Бібліографія
[1] | Технічні умови ТУ 16-538-240-84 * | Графіт для спектрального емісійного аналізу. Технічні умови |
________________ * ТУ, згадані тут і далі за текстом, не наводяться. За додатковою інформацією зверніться за посиланням. - Примітка виробника бази даних. | ||
[2] | Технічні умови ТУ 3497-001-51046676-01 | Графітові електроди для спектрального емісійного аналізу. |
[3] | Технічні умови ТУ 6-43-00205133-54-95 | Фотопластинки спектрографічні. Технічні умови |
УДК 669.214; 543.06; 543.42; 311.214 | ГКС 77.120.99 | ОКСТУ 1709 |
Ключові слова: срібло, методи (спектрографічний та спектрометричний) атомно-емісійного аналізу, домішки, дуга змінного струму, стандартні зразки складу, зразки для градуювання, правильність методу аналізу, прецизійність методу аналізу, абсолютна похибка, межа повторюваності, межа проміжної контроль точності результатів аналізу |